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日本opt-mt近紅外分析儀高輸出光纖光源照射 M018 通過用近紅外線照射測量目標(biāo)，通過光纖接收漫反射光，并從背面的 SMA 光連接器輸出，可以進(jìn)行交互模式 (*) 測量。 通過將光輸出輸入光譜儀等，可以利用近紅外吸收非破壞性地進(jìn)行成分分析。

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日本進(jìn)口YAMADA宏觀觀察照明裝置鹵素光源 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。

日本S-VANS基板表面目視檢查燈激光照明裝置 S-VANS/日本 350LSFI ★220mm 照射距離處照度超過 1,400,000 lx ★通過輸出控制以 % 為單位調(diào)節(jié)照度 ★標(biāo)配濾光片更換器 (RGB) ★導(dǎo)光長度可選（1m/2m/3m）

日本進(jìn)口S-VANS超高亮度鹵素光源目視檢查燈 S-VANS/日本 185LE-AL ★鋁制燈箱重1.2kg ★可選擇拱形夾具和錘式夾具 ★手持式，非常適合檢查大型面板等。 ★基本性能相當(dāng)于185LE標(biāo)準(zhǔn)型